EMC試験機器校正

ISO／IEC 17025に基づいたA2LA認定校正所

 

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A2LA（The American Association for Laboratory Accreditation）により国際規格ISO/IEC 17025に基づいた校正所として認定されております。ISO／IEC 17025認定校正が注目を集める今、EMC試験機器の校正は、この機会に是非弊社をご利用ください。 弊社は高品質なEMC試験機器の校正サービスを皆様にご提案致します。

A2LA認定校正

機器毎リスト

  • Loop Antenna (ループアンテナ)
    • 範囲：　9 kHz – 30 MHz
    • 参照：　SAE ARP958
    • 項目：　Antenna Factor
  • Rod Antenna　(ロッドアンテナ)
    • 範囲：　9 kHz – 50 MHz (ECSM)
    • 参照：　ANSI C63.5 | CISPR 16-1-4, CISPR 25 | SAE ARP958
    • 項目：　Antenna Factor
  • Antenna (Dipole : ダイポール, Broadband : ブロードバンド, Horn : ホーン)
    • 範囲：　30 – 1000 MHz (RAM) | 30 – 1000 MHz (SSM) | 1 – 18 GHz (SSM) | 20 MHz – 18 GHz
    • 参照：　ANSI C63.5, VCCI-V10 | ANSI C63.5 |  Annex H (SACS)対応 | ANSI C63.5 | SAE ARP958
    • 項目：　Antenna Factor
  • Large Loop Antenna　(ラージループアンテナ)
    • 範囲：　9 kHz – 30 MHz
    • 参照：　CISPR 16-1-4
    • 項目：　Validation Factor
  • Loop Sensor　(ループセンサー)　(e.g. Solar 9229-1)
    • 範囲：　5 Hz – 300 kHz
    • 参照：　MIL-STD-461
    • 項目：　Antenna Factor
  • Pre Amplifier　(プリアンプ)
    • 範囲：　10 Hz – 26.5 GHz
    • 参照：　UL Japan Procedure
    • 項目：　Gain
  • Attenuator　(アッテネーター)
    • 範囲：　10 Hz – 26.5 GHz
    • 参照：　UL Japan Procedure
    • 項目：　Attenuation
  • Coaxial Cable　(同軸ケーブル)
    • 範囲：　10 Hz – 26.5 GHz
    • 参照：　UL Japan Procedure
    • 項目：　Insertion loss
  • EMI Receiver　(EMI レシーバー)
    • 範囲：　Band A、B、C、D、E　｜18-40 GHz
    • 参照：　CISPR16-1-1 Ed.3　｜　UL Japan Procedure
    • 項目：　Input Impedance　｜Pulse Response　｜　Relative Pulse Response　｜　Sine-Wave　｜　Selectivity (6dB BW)　｜　Impulse Bandwidth　｜CISPR-AV Verification　｜Frequency　｜　Level
  • Spectrum Analyzer　(スペクトラムアナライザー)
    • 範囲：　10 Hz – 40 GHz
    • 参照：　Manufacturer Procedure　｜　UL Japan Procedure
    • 項目：　Cal out Frequency　｜　Cal out Level　｜　Frequency Readout　｜　Level　｜Resolution Bandwidth　｜　Input Att Switching　｜Scale Fidelity　｜　VSWR　｜　Impulse Bandwidth　| (Tracking function) | Absolute out |  Level Flatness
  • Signal Generator (シグナルジェネレーター)
    • 範囲：　10 Hz – 40 GHz
    • 参照：　UL Japan Procedure
    • 項目：　Frequency　｜　Level　｜　AM modulation　｜　Modulation Frequency
  • LISN (AMN / AN)
    • 範囲：　9 kHz -200 MHz
    • 参照：　CISPR 16-1-2 +A2　｜　CISPR 25　｜　ISO 7637-2　｜　ANSI C63.4
    • 項目：　Insertion Loss (VDF)　｜　Impedance　｜　Phase　｜Isolation　｜VSWR
  • ISN　(TESEQ ISNs only)
    • 範囲：　150 kHz – 30 MHz
    • 参照：　CISPR 16-1-2　｜　CISPR 22　｜　Manufacturer Procedure
    • 項目：　CM Impedance　｜　Phase angle　｜　VDF　｜　Isolation　｜　LCL
  • E- Field Probe　(電界プローブ)
    • 範囲：　10 kHz – 4 GHz　(G-TEM)　｜　1 GHz – 6 GHz (SAC)　｜　100MHz, 1.3, 2.9 GHz
    • 参照：　IEEE Std 1309
    • 項目：　Correction Factor　｜　Linearity　｜　Rotational Response
  • Magnetic Field Meter　(磁界メーター)
    • 範囲：　1.26 μT – 63 μT　(50, 60 Hz)
    • 参照：　IEC 61786
    • 項目：　Frequency Response
  • CDNs
    • 範囲：　150 kHz – 300 MHz
    • 参照：　UL Japan Procedure
    • 項目：　Coupling Factor　｜　Impedance
  • (150 to 50) Ω Adpt.
    • 範囲：　150 kHz – 300 MHz
    • 参照：　UL Japan Procedure
    • 項目：　Insertion Loss
  • Directional Coupler　(方向性結合器)
    • 範囲：　9 kHz – 8.5 GHz
    • 参照：　UL Japan Procedure
    • 項目：　Insertion Loss　｜　Coupling Factor　｜　Isolation　
  • BCI Probe　(BCI プローブ)
    • 範囲：　9 kHz – 2.1 GHz
    • 参照：　ISO 11452-4
    • 項目：　Insertion Loss
  • BCI Probe Fixture
    • 範囲：　9 kHz – 2.1 GHz
    • 参照：　UL Japan Procedure
    • 項目：　VSWR
  • Current Probe　(電流プローブ)
    • 範囲：　9 kHz – 2.1 GHz
    • 参照：　CISPR 16-1-2　｜ISO 11452-4
    • 項目：　Transfer Impedance
  • ESD Simulator　(静電気シミュレーター)
    • 範囲：　±2, 3, 4, 6, 8, 15, 20 | 25 kV | ±2 kV – 40 kV
    • 参照：　IEC 61000-4-2: 2001,2008　｜ISO 10605: 2001,2008 ｜ RTCA/DO-160
    • 項目：　Current | Rise / Fall time | RC Time Constant | Charging Voltage
  • EFT/Burst Generator (バースト試験機)
    • 範囲：　±0.25 kV – ±4 kV
    • 参照：　IEC 61000-4-4 | 2012対応
    • 項目：　Peak Voltage　｜　Rise / Fall time　｜　RC Time Constant　｜　Charging Voltage
  • Coupling Clamp　with EFT/Burst Gen.　(カップリングクランプ)
    • 範囲：　+1 kV
    • 参照：　IEC 61000-4-4　｜　2012対応
    • 項目：　Peak Voltage　｜　Rise time　｜　Pulse width
  • Surge Generator　(サージ試験機)
    • 範囲：　±0.5 kV – ±4 kV
    • 参照：　IEC 61000-4-5
    • 項目：　Voltage (Open)　｜　Current (Short)　｜　Rise / Front time　｜　Time to half value　｜　Duration time　｜　Over / Under Shoot　｜　Phase Shift
  • Voltage Dip Simulator　(ディップ試験機)
    • 範囲：　0 V – 500 V
    • 項目：　Voltage　｜　Rise / Front time　｜　Over / Under Shoot　｜　Duration time　｜　Phase Shift

パラメータ毎リスト

  • RF-Absolute Power- Measure
    • 範囲：　10 Hz – 40 GHz
    • 参照：　UL Japan Procedure
  • RF-Relative Power- Measure
    • 範囲：　10 Hz – 40 GHz
    • 参照：　UL Japan Procedure
  • Impedance- Measure
    • 範囲：　9 kHz – 8.5 GHz
    • 参照：　UL Japan Procedure
  • VSWR- Measure
    • 範囲：　9 kHz – 8.5 GHz
    • 参照：　UL Japan Procedure
  • Peak Voltage- Measure
    • 範囲：　1 V – 800 V
    • 参照：　UL Japan Procedure
  • Frequency- Measure
    • 範囲：　10 Hz – 40 GHz
    • 参照：　UL Japan Procedure
  • Time Interval- Measure
    • 範囲：　10 ps/div – 20 s/div
    • 参照：　UL Japan Procedure
    • 項目：　Pulse width　｜　Pulse Period　｜　Duty Cycle　｜　Rise / Fall time　
  • その他機器及び校正範囲の変更（上限、下限）は、 一般校正にて承ります。
  • 弊社における最小の不確かさの値でご提供致します。
  • アンテナ校正は, 屋外のアンテナ校正専用オープンサイトまたは電波暗室で対応が可能です。
  • その他の校正可能な機器もございます。
  • 校正料金はお問い合わせ下さい。詳細につきましてはご遠慮なくご相談ください。

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