弊社では、半導体プロセス装置向けのSEMI F47 (Voltage Sag Immunity) 試験サービスを提供しております。

SEMI F47(Voltage Sag Immunity)試験とは

半導体および関連業界のメンバーから構成される国際半導体製造装置材料協会(SEMI)が策定する半導体プロセス装置向けの規格の一つです。半導体工場内においてAC供給電源が突然の電圧低下を起こした状態を模擬し、その場合の被試験装置の耐性を評価する試験です。

  • SEMI:Semiconductor Equipment and Materials Institute
  • Voltage Sag Immunity:電圧瞬時降下イミュニティ

SEMI F47 試験用機器 SEMI F47 試験用機器

試験について

試験形態: 受託試験
経験とノウハウを持った弊社エンジニアが測定を行います。
試験条件: 単相 AC 240 V  50/60 Hz 10 A/相
試験料金: お問合せください。
成果物: 試験評価レポート